加入收藏|简体中文|ENGLISH

Chiaro

作者 Admin 浏览 发布时间 20/08/11

虽然与MCA类似,但Chiaro的涡轮分子压力和速度是有所不同的。 配置可安装的光学显微镜,以便在等离子处理期间观察样品,并在液体/气体样品中检测是否存在泄漏现象。 在低真空处理等离子可增加等离子的活性。 为了检测TEM杆中气体和液体样品是否存在泄露现象,Chiaro具备了检漏功能,不仅在安装时可观察气体/液体的电子晶片,还可测试表面的亲水度并处理等离子。

 

Key Features

  • 无需组装
  • 以40倍的光学显微镜观察TEM样品杆装载在可回转开的腔室盖中
  • 在高真空下储存3个TEM样品杆
  • 在<2e-5 Torr时对可能存在的气体/液体泄漏进行压力监测
  • 将疏水表面变为亲水表面的等离子处理
  • 等离子清洗样品备制前后的TEM样品杆
  • 3位拨动开关(通气、开启、关闭)
  • 触摸屏操作
  • 在短短几分钟内实现多个SEM之间的切换,以便进行原位清洗
  • 专门针对聚合物/有机样品的还原性气体混合物
  • 可移动小推车,配置等离子体驱动气瓶


上一篇:[Chiaro]下一篇:[Chiaro]
首    页 公司概况 产品中心 技术支持 新闻中心 人才引进 联系我们
Copyright 2015-2016 版权所有:天津奥辛博科技有限责任公司 工业和信息化部备案管理系统网站19002142号-1 公安备案号:12010402000206