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qp-fast
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10
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统一质量SPM探针,三个矩形悬臂,软/标准/快速/动态AFM分别成像,
检测面镀金
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20
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50
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qp-HBC
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10
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镀层: 悬臂背面镀铝； 针尖形状: 角锥形; 悬臂梁: 频率 60 kHz 力常数 0.5 N/m 长度 115 μm; 应用范围：智能探针
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20
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50
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qp-BioT
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10
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qp-BioT探针有两个三角悬臂梁，悬臂梁: 力常数 0.08 N/m 0.3 N/m; 应用范围：生物探针、液体探针；优势：力常数和共振频率波动范围小，特别适用于的定量纳米力学研究和生物测试
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20
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50
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qp-BioAC
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10
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qp-BioAC探针三个悬臂梁，悬臂梁: 力常数 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 应用范围：生物探针、液体探针；优势：力常数和共振频率波动范围小，特别适用于的定量纳米力学研究和生物测试
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20
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50
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qp-BioAC-CI
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10
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qp-BioAC-CI探针三个悬臂梁，悬臂梁: 力常数 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 应用范围：生物探针,细胞探针；优势：力常数和共振频率波动范围小，特别适用于的定量纳米力学研究和细胞测试
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20
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|
50
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PtSi-NCH
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10
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新导电探针，镀层: 铂硅； 比常规导电探针更耐磨，电学信号更长久，重复性好、分辨率高。应用范围：导电探针
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20
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50
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ATEC-NC
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10
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轻敲探针，镀层: 无； 针尖可视的探针，可应用到对于那些针尖需要被精确定位或必须针尖可见的应用（例如，用于纳米操作）来说，ATEC是必然的首选。由于其很小的半锥角尖端，ATEC系列产品在陡峭的小尺寸图案样品测量中表现出很好的性能。
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|
20
|
|
50
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ATEC-NCPt
|
10
|
导电探针，镀层: 铂铱； 针尖可视的探针，可应用到对于那些针尖需要被精确定位或必须针尖可见的应用（例如，用于纳米操作）来说，ATEC是必然的首选。由于其很小的半锥角尖端，ATEC系列产品在陡峭的小尺寸图案样品测量中表现出很好的性能。
|
|
20
|
|
50
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|
PPP-NCH
|
10
|
轻敲探针，镀层: 无； 其小于7纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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|
20
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|
50
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PPP-NCH-W
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380
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PPP-NCHR
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15
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轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 其小于7纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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20
|
|
50
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|
PPP-NCHR-W
|
380
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PPP-NCHPt
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10
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导电探针，镀层: 铂铱； 其小于25纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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|
20
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|
50
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PPP-NCHPt-W
|
380
|
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ATEC-NCAu
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10
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导电探针，镀层: 金； 针尖可视的探针，可应用到对于那些针尖需要被精确定位或必须针尖可见的应用（例如，用于纳米操作）来说，ATEC是必然的首选。由于其很小的半锥角尖端，ATEC系列产品在陡峭的小尺寸图案样品测量中表现出很好的性能。
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|
PPP-NCHAu
|
10
|
导电探针，镀层: 金； 其小于25纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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|
PPP-NCHAuD
|
10
|
导电探针，镀层: 金； 其小于25纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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|
PPP-XYNCHR
|
10
|
轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀金； 此探针具有杰出的运行稳定性，优异的灵敏度以及快速扫描能力。
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20
|
|
50
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|
PPP-QNCHR
|
10
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轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 其小于7纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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PPP-RT-NCHR
|
10
|
轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 其小于7纳米的典型尖端半径和很小的探针个体差异提高了图像的分辨率并保证了图像的可重复性。
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|
20
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|
50
|
|
PL2-NCH-10
|
10
|
轻敲探针，镀层: 无；应用:Plateau AFM Tips
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PL2-NCHR-10
|
10
|
轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀铝；应用:Plateau AFM Tips
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TL-NCH
|
10
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tipless探针，镀层: 无；
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20
|
|
50
|
|
SSS-NCH
|
10
|
尖探针，镀层: 无； 针尖形状: 悬臂梁: 频率 330 kHz 力常数 42 N/m 长度 125 μm; 应用范围：轻敲探针
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|
20
|
|
50
|
|
SSS-NCHR
|
10
|
尖探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 针尖形状: 悬臂梁: 频率 330 kHz 力常数 42 N/m 长度 125 μm; 应用范围：轻敲探针
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCH
|
10
|
HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCH-W
|
370
|
|
AR5T-NCH
|
10
|
TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13°
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5T-NCH-W
|
365
|
|
AR10-NCH
|
10
|
HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1
|
|
20
|
|
50
|
|
AR10-NCH-W
|
370
|
|
AR10T-NCH
|
10
|
TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13°
|
|
20
|
|
50
|
|
AR10T-NCH-W
|
365
|
|
AR5-NCHR
|
10
|
HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1, detector side :Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCHR-W
|
370
|
|
AR5T-NCHR
|
10
|
TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13°detector side: Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5T-NCHR-W
|
365
|
|
AR10-NCHR
|
10
|
HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1 detector side :Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
AR10-NCHR-W
|
370
|
|
AR10T-NCHR
|
10
|
TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13°detector side: Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
AR10T-NCHR-W
|
365
|
|
DT-NCHR
|
10
|
DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
CDT-NCHR
|
10
|
CONDUCTIVE DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCST
|
10
|
轻敲探针，镀层: 无，针尖形状: 锥形; 悬臂梁: 频率 160 kHz 力常数 7.4 N/m 长度 150 μm; 应用范围：软轻敲探针
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCST-W
|
380
|
|
PPP-NCSTR
|
10
|
轻敲探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 针尖形状: 锥形; 悬臂梁: 频率 160 kHz 力常数 7.4 N/m 长度 150 μm; 应用范围：软轻敲探针
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCSTR-W
|
380
|
|
PPP-NCSTPt
|
10
|
导电探针，镀层: 铂铱；
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCSTPt-w
|
380
|
|
PPP-NCSTAu
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating
|
|
PPP-NCSTAuD
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating
|
|
PPP-XYNCSTR
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Al-coating,XY-auto aligment
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCL
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCL-W
|
380
|
|
PPP-NCLR
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCLR-W
|
380
|
|
PPP-NCLPt
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side :
Pt/Ir-coating, tip side : Pt/Ir-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-NCLPt-W
|
380
|
|
PPP-NCLAu
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector and tip side : Au-coating
|
|
PPP-NCLAuD
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Au-coating
|
|
PL2-NCL
|
10
|
Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping
-mode,long cantilever
|
|
PL2-NCLR
|
10
|
Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping
-mode,long cantilever, detector side: Al-coating
|
|
TL-NCL
|
10
|
Tipless silicon cantilever based on POINTPROBE technology
|
|
20
|
|
50
|
|
SSS-NCL
|
10
|
尖探针，镀层: 无； 针尖形状: 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围：轻敲探针
|
|
20
|
|
50
|
|
SSS-NCLR
|
10
|
尖探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 针尖形状: 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围：轻敲探针
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCL
|
10
|
高长径比探针，镀层: 无； 针尖形状: 高长径比; 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围：高长径比探针
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCL-W
|
370
|
|
AR5-NCLR
|
10
|
高长径比探针，镀层: 悬臂背面镀铝； 针尖形状: 高长径比; 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围：高长径比探针
|
|
20
|
|
50
|
|
AR5-NCLR-W
|
370
|
|
DT-NCLR
|
10
|
金刚石探针，高长径比探针，硅悬臂非接触式- /敲击模式，镀层: 悬臂背面镀铝
|
|
20
|
|
50
|
|
CDT-NCLR
|
10
|
导电金刚石探针，高长径比探针，硅悬臂非接触式- /敲击模式，镀层: 悬臂背面镀铝
|
|
20
|
|
50
|
|
A-Probe
|
10
|
AKiyama-Probe, self-sensing and self-actuating(-exciting) probe for dynamic mode AFM
|
|
PPP-SEIH
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact/tapping
-mode,special type A.
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-SEIH-W
|
380
|
|
PPP-SEIHR
|
10
|
Silicon cantilever for non-contact/tapping
-mode,special type A, detector side : Al-coating
|
|
20
|
|
50
|
|
PPP-SEIHR-W
|
380
|
