电镜原位纳米压痕测试系统InSEM
作者 Admin
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发布时间 15/03/15
InSEM®HT(高温)通过在真空环境中分别独立加热压头和样品以测量高温下的硬度、模量和刚度。 InSEM HT与扫描电子显微镜 (SEM)和聚焦离子束(FIB)工作室,或独立的真空工作室兼容。 配有的InView软件可帮助高级研究人员开发新的实验。科学出 版文献表明,InSEM HT结果与传统的大规模高温测试数据匹配良好。测试温度范围宽以及拥有成本低的特点使InSEM HT成为材料 开发研究计划中很有价值的设备。
产品描述 InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热,并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统 温度可高达800°C,因而可以模拟现场极端温度条件,以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化,可用于 高温测试应用,并可提供多种几何形状。
主要功能InForce 50驱动器,压头可加热,用于电容位移测量,并配有电磁启动的可互换探头样品可升温至800°C,采用10mm样品尺寸和真空兼容的样品安装系统 InQuest高速控制器电子设备,具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数 用于样本定位的XYZ移动系统 SEM视频捕获,可以将SEM图像和测试数据进行同步 独特的软件集成压头校准系统,可实现快速,准确的压头校准 与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能 主要应用高温测试硬度和模量测量(Oliver-Pharr) 连续刚度测量 高速材料性质分布 蠕变测量 应变率灵敏度 工业应用大学、研究实验室和研究所航空航天 汽车制造业 硬涂层 核能 军事/国防
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