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电镜原位纳米压痕测试系统InSEM

作者 Admin 浏览 发布时间 15/03/15


                                                 

InSEM®HT(高温)通过在真空环境中分别独立加热压头和样品以测量高温下的硬度、模量和刚度。 InSEM HT与扫描电子显微镜

(SEM)和聚焦离子束(FIB)工作室,或独立的真空工作室兼容。 配有的InView软件可帮助高级研究人员开发新的实验。科学出

版文献表明,InSEM HT结果与传统的大规模高温测试数据匹配良好。测试温度范围宽以及拥有成本低的特点使InSEM HT成为材料

开发研究计划中很有价值的设备。


产品描述

InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热,并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统

温度可高达800°C,因而可以模拟现场极端温度条件,以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化,可用于

高温测试应用,并可提供多种几何形状。



主要功能

InForce 50驱动器,压头可加热,用于电容位移测量,并配有电磁启动的可互换探头
样品可升温至800°C,采用10mm样品尺寸和真空兼容的样品安装系统
InQuest高速控制器电子设备,具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数
用于样本定位的XYZ移动系统
SEM视频捕获,可以将SEM图像和测试数据进行同步
独特的软件集成压头校准系统,可实现快速,准确的压头校准
与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能

主要应用

高温测试
硬度和模量测量(Oliver-Pharr)
连续刚度测量
高速材料性质分布
蠕变测量
应变率灵敏度

工业应用

大学、研究实验室和研究所
航空航天
汽车制造业
硬涂层
核能
军事/国防


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